Патент на быструю проверку чипов с помощью картридж-модуля
Запатентована система, позволяющая одновременно тестировать несколько чипов с помощью сменного картридж-модуля.
Такой подход ускоряет burn-in тесты и упрощает массовое производство электроники.
Это важно для брендов, работающих с ODM/EMS и разрабатывающих свой IoT-продукт.
Подписывайся на сайт www.tmark.pro
