Упрощённое тестирование микрошариков: новый патент из Тайваня
Патент TW202422345A описывает способ тестирования микрошариков с новой пробной картой, где все зонды одинакового размера.
Это снижает износ, упрощает производство и делает тестирование доступнее.
Важно для стартапов, работающих с микроэлектроникой, особенно в устройствах для e-commerce.
Подписывайся на сайт www.tmark.pro
