Японцы патентуют сверхточную систему инспекции для микродеталей
В Японии подана заявка на устройство инспекции (JP2024023456A) с уникальным расположением элементов: датчики электронов и рентгена частично перекрываются, что повышает точность анализа образцов.
Это важно для брендов в микроэлектронике и тех, кто работает с контрактными производствами — контроль качества выходит на новый уровень.
Подписывайся на сайт www.tmark.pro
