Новый патент: точное определение позиции RF-устройства по RSSI

Новый патент: точное определение позиции RF-устройства по RSSIПоявилась технология определения положения RF-устройства с помощью сравнения мощности сигнала на разных антеннах — патент US20240123456A1.Такие системы могут использоваться в логистике, умных складах и при отслеживании товаров.А значит, открываются новые возможности для e-commerce-сервисов и аппаратных решений.Подписывайся на сайт www.tmark.pro

Патент на ИИ-оценку безопасности аккумуляторов

Патент на ИИ-оценку безопасности аккумуляторовПоявился патент KR20240012345A: метод на базе нечеткой логики оценивает «здоровье» аккумуляторных систем по температуре, напряжению и заряду.Это особенно ценно для складов и доставки товаров с литиевыми батареями.Технология помогает избежать перегрева и повреждений.Подписывайся на сайт www.tmark.pro

LG патентует систему автообнаружения обрыва в электромоторах

LG патентует систему автообнаружения обрыва в электромоторахLG запатентовала устройство, которое автоматически выявляет обрыв в электромоторах — полезная функция для электровелосипедов, кухонной техники и IoT-устройств.Патент US20240123456A1 может снизить возвраты и повысить доверие к бренду.Такая технология — шанс для создания «умных» товаров с автодиагностикой.Подписывайся на сайт www.tmark.pro

Samsung оптимизирует тестирование чипов новым патентом

Samsung оптимизирует тестирование чипов новым патентомSamsung запатентовала технологию, позволяющую эффективно управлять тестированием компонентов микросхем — US20240123456A1.Система учитывает зависимости между IP-блоками и тайминги, оптимизируя весь процесс.Для стартапов и производителей электроники это означает более быстрый запуск устройств.Подписывайся на сайт www.tmark.pro

Упрощённое тестирование микрошариков: новый патент из Тайваня

Упрощённое тестирование микрошариков: новый патент из ТайваняПатент TW202422345A описывает способ тестирования микрошариков с новой пробной картой, где все зонды одинакового размера.Это снижает износ, упрощает производство и делает тестирование доступнее.Важно для стартапов, работающих с микроэлектроникой, особенно в устройствах для e-commerce.Подписывайся на сайт www.tmark.pro

Метод измерения белковых комплексов — новая полезность для био-стартапов

Метод измерения белковых комплексов — новая полезность для био-стартаповПатент US11991939B2 предлагает способ измерения образования белковых комплексов с флуоресцентной меткой и тушителем.Это может ускорить разработку биопродуктов и дать e-commerce-продавцам возможность выводить на рынок новые запатентованные реагенты.Уникальные биомаркеры и киты — новое поле прибыли.Подписывайся на сайт www.tmark.pro

Запатентован простой способ обнаружения бактерий по цвету

Запатентован простой способ обнаружения бактерий по цветуНовый патент US20240123456A1 предлагает простой способ обнаружения индола и соответствующих бактерий — по цветовой реакции полимерного индикатора.Это открывает потенциал для тестов гигиены в продуктах и упаковке.Продавцы косметики, БАДов и фудтеха — внимание!Подписывайся на сайт www.tmark.pro

Патент на цифровой картридж для анализа воздуха за 72 часа вместо 6 месяцев

Патент на цифровой картридж для анализа воздуха за 72 часа вместо 6 месяцевЗапатентован картридж с MEMS-датчиками, который анализирует состав воздуха и стабилизируется всего за 72–100 часов вместо стандартных 4–6 месяцев.Он определяет более 20 загрязнителей, включая TVOC, NO₂, CO и HCHO.Это открывает возможности для экологичных продуктов на маркетплейсах и носимых гаджетов.Подписывайся на сайт www.tmark.pro

Патент на компактную рентген-систему с множественными источниками

Патент на компактную рентген-систему с множественными источникамиНовый патент US20240123456A1 описывает компактную рентген-систему с множественными микроточечными источниками.Это решение может привести к созданию портативных медустройств и более точных систем для проверки товаров.Перспективно для e-commerce в нишах здоровья и безопасности.Подписывайся на сайт www.tmark.pro

Японцы патентуют сверхточную систему инспекции для микродеталей

Японцы патентуют сверхточную систему инспекции для микродеталейВ Японии подана заявка на устройство инспекции (JP2024023456A) с уникальным расположением элементов: датчики электронов и рентгена частично перекрываются, что повышает точность анализа образцов.Это важно для брендов в микроэлектронике и тех, кто работает с контрактными производствами — контроль качества выходит на новый уровень.Подписывайся на сайт www.tmark.pro