Патент на тестирование оптических чипов снизит брак в электронике
В патенте US20240123456A1 описана новая система тестирования оптических чипов на уровне вафера с использованием распределения по длинам волн (wavelength-route division).
Это позволит быстрее и точнее выявлять дефекты, снижая издержки производителей.
Для e-commerce это значит — более доступные оптические продукты: от гарнитур AR до модемов.
Подписывайся на сайт www.tmark.pro
